В. Б. Илюшин

Сканирующая зондовая микроскопия это основной инструмент визуализации наноструктур. При изучении свойств объектов её методами основным результатом научного поиска являются, как правило, трехмерные изображения поверхности этих объектов. В последние годы наметилась тенденция перехода от простой визуализации наноструктур к определение их количественным характеристикам, в том числе к построению геометрической конфигурации расположения составляющих структуру элементов, в частности это могут быть молекулы и атомы. Кроме того, СЗМ – это инструмент механической нанообработки материалов. Данная статья написана в порядке дискуссии и обсуждения проблемы доверия результатам измерений сканирующей зондовой микроскопии и основана на доступных автору публикациях по этой теме.