NT-MDT S.I. ВЫСТУПИТ НА ТРЁХ КОНФЕРЕНЦИЯХ: «СТЕЛОПРОГРЕСС-XXI», «АКТУАЛЬНЫЕ ПРОБЛЕМЫ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ», «КОМБИНАЦИОННОЕ РАССЕЯНИЕ-90»

Дорогие коллеги, NT-MDT S.I. на текущей и следующей неделе выступит на трёх конференциях.

23 мая почётный президент группы компаний проф. Виктор Быков выступит с докладом "Зондовая микроскопия и спектроскопия для исследования топографии и свойств поверхности: измерения и технологии атомарного и нанометрического масштаба" на конференции "СТЕЛОПРОГРЕСС-XXI", которая пройдёт на базе АО "Саратовский институт стекла" в городе Саратов.

Также с 28 по 31 мая в городе Уфа будет проходить V Всероссийская научная молодежная конференция «АКТУАЛЬНЫЕ ПРОБЛЕМЫ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ». В Уфе с пленарным докладом выступит Вячеслав Поляков, к.т.н. руководитель отдела R&D в NT-MDT S.I. Тема доклада "Новые возможности сканирующей зондовой микроскопии".

И разумеется одно из самых главных событий: с 28 мая по 1 июня будет проходить конференция "Комбинационное рассеяние – 90".

Прошло ровно 90 лет с момента выдвижения гипотезы о существовании данного научного эффекта великим советским учёным Леонидом Мандельштамом. Позднее с 1926 года по 1928 год на базе МГУ Мандельштам вместе с коллегами провели ряд эксперементов, которые подтвердил гипотезу на практике.

На конференции выступит ведущий сотрудник NT-MDT S.I., к.т.н Артём Шелаев с докладом: "Интеграция методов сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния".

Мы будем очень рады пообщаться с Вами на данных мероприятиях, выслушать вопросы и предложить варианты решения Ваших научных задач.