12 сентября 2018 года, в 15.00, в конференц-зале Институтa кpистaллогpaфии PAН (Москва, Ленинский пpоспект, 59, 1 этаж) состоится 165-е зaседaние семинapa «Ленгмюpовские пленки и aнсaмбли aмфифильных молекул».
Повесткa дня:
А. Р. Оганов (Сколковский институт науки и технологий) – Компьютерный дизайн новых материалов.
Бюpо семинapa:
Л. A. Фейгин (председатель),
Л. Г. Янусовa (ученый секретарь),
Н. В. Марченков, С. A. Пикин, Институт кристаллографии PAН,
А. С. Алексеев, Институт общей физики РАН,
В. A. Быков, НИИ Физических проблем, НТ МДТ,
A. Г. Витухновский, Физический Институт PAН,
Г. С. Плотников, Физический факультет МГУ,
С. Н. Чвалун, НИЦ «Курчатовский институт»,
В. Л. Шаповалов, Институт химической физики РАН.
Телефон для справок: (499)135-02-29 (Людмила Германовна Янусова), yanusova@crys.ras.ru
Для входа в институт нужно иметь при себе документ, удостоверяющий личность.
К сведению посетителей.
Артем Ромаевич Оганов – российский кристаллограф-теоретик, минералог, химик, педагог. Наиболее известен работами по созданию методов компьютерного дизайна новых материалов и предсказания кристаллических структур. В 1997 году с отличием окончил геологический факультет МГУ по специальности «кристаллография и кристаллохимия». В настоящее время является профессором Сколковского института науки и технологий. В 2013 году, получив мегагрант Правительства Российской Федерации, создал и возглавил Лабораторию компьютерного дизайна материалов в Московском физико-техническом институте. В 2017 году вошел в Совет по науке и образованию при президенте РФ. Разработанный Артемом Огановым эффективный эволюционный метод предсказания кристаллических структур был положен им в основу программы USPEX, которую используют более 4000 исследователей по всему миру. Разработанные Огановым теоретические методы позволяют предсказывать и получать материалы с заданными свойствами. В 2014 году журналы «Русский репортёр» и «Эксперт» включили профессора Оганова в список 100 наиболее влиятельных россиян, а журнал «Forbes» включил его в число «50 россиян, завоевавших мир». Про Артема Оганова были сняты два фильма: «Цвет кристалла» и «Made by Russians».
Приглашение на семинар
 Дорогие друзья,
В рамках проекта ФИОП РОСНАНО организован конкурс "Наноразборка" среди научно-позновательных каналов на YouTube. И в прошлом месяце к нам приезжала в гости команда блоггеров канала " Физика от Побединского". А мы, в свою очереди, показали наш головной офис и рассказали Побединскому, что такое АСМ и зачем он нужен.
https://youtu.be/xRDDapA3eZA
Дорогие коллеги, NT-MDT S.I. на текущей и следующей неделе выступит на трёх конференциях.
23 мая почётный президент группы компаний проф. Виктор Быков выступит с докладом "Зондовая микроскопия и спектроскопия для исследования топографии и свойств поверхности: измерения и технологии атомарного и нанометрического масштаба" на конференции "СТЕЛОПРОГРЕСС-XXI", которая пройдёт на базе АО "Саратовский институт стекла" в городе Саратов.
Также с 28 по 31 мая в городе Уфа будет проходить V Всероссийская научная молодежная конференция «АКТУАЛЬНЫЕ ПРОБЛЕМЫ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ». В Уфе с пленарным докладом выступит Вячеслав Поляков, к.т.н. руководитель отдела R&D в NT-MDT S.I. Тема доклада "Новые возможности сканирующей зондовой микроскопии".
И разумеется одно из самых главных событий: с 28 мая по 1 июня будет проходить конференция " Комбинационное рассеяние – 90".
Прошло ровно 90 лет с момента выдвижения гипотезы о существовании данного научного эффекта великим советским учёным Леонидом Мандельштамом. Позднее с 1926 года по 1928 год на базе МГУ Мандельштам вместе с коллегами провели ряд эксперементов, которые подтвердил гипотезу на практике.
На конференции выступит ведущий сотрудник NT-MDT S.I., к.т.н Артём Шелаев с докладом: "Интеграция методов сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния".
Мы будем очень рады пообщаться с Вами на данных мероприятиях, выслушать вопросы и предложить варианты решения Ваших научных задач.
Компания НТ-МДТ – российский разработчик и производитель сканирующих зондовых микроскопов – представляет подборку видеоматериалов о материально-техническом обеспечении исследований в области нанотехнологий и о работе на оборудовании для проникновения в тайны наномира.
Видеорассказ о материально-техническое обеспечение, необходимом для продвижения нанотехнологий, и о его производителе – российской компании НТ-МДТ http://www.rusnor.org/pubs/video/9444.htm.
Видеорассказ о российской компании НТ-МДТ – одном из мировых лидеров в производстве сканирующих зондовых микроскопов – основного инструмента исследователей наномира http://www.rusnor.org/pubs/video/9442.htm.
Видеорассказ о знакомстве и работе с нанотехнологиями школьников и студентов в лаборатория Экспериментальной физики Новосибирского государственного университета http://www.rusnor.org/pubs/video/9440.htm.
Видеорассказ об исследовательской деятельности школьников в области нанотехнологий в Российском государственном педагогическом университете имени А. И. Герцена http://www.rusnor.org/pubs/video/9441.htm.
В Санкт-Петербурге 22.02.2017 с 11-00 до 14-00 в большом актовом зале ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН (главный корпус, желтое двухэтажное здание на ул. Политехническая 26) при поддержке Нанотехнологического Общества России и компании НТ-МДТ Спектрум Инструментс состоится в формате круглого стола семинар лабораторий П. Г. Баранова, Ю. Г. Кусраева и Е. И. Терукова по теме: «Анализ материалов методами СЗМ/РАМАН/ИК микроскопии».
Откроют круглый стол:
Директор отделения физики твердого тела ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН,
проф. Ю. Г. Кусраев.
«Вступительное слово»
Почётный президент группы компаний НТ-МДТ Спектрум Инструментс, президент Нанотехнологического Общества России, проф. В. А. Быков.
«Новейшие разработки компании НТ-МДТ Спектрум Инструментс»
Заместитель генерального директора «НТЦ Тонкопленочных Технологий в Энергетике»
проф. Е. И. Теруков.
«Диагностика в солнечной фотовольтаике»
Заведующий лабораторией микроволновой спектроскопии кристаллов,
проф. П. Г. Баранов.
«Исследования спиновых явлений»
С краткими сообщениями также выступят:
к.ф.-м.н. М. С. Дунаевский «Неоптический метод для картирования интенсивности излучения полупроводниковых лазерных структур»
д.ф.-м.н. А. В. Анкудинов «Специализированные зонды для СЗМ исследований живых клеток; перспективы их использования в комбинации СЗМ с флуоресцентной наноскопией»
проф. Н. В. Каманина «Преимущества лазерного ориентированного осаждения углеродных нанотрубок в модификации свойств оптических материалов»
Л. Б. Матюшкин «Низкоразмерные перовскиты CsPbX3 (X = Cl, Br, I) для фотовольтаики и оптоэлектроники»
Желающие приглашаются обменяться на круглом столе опытом в области анализа материалов, выступить с краткими (< 5 мин.) презентациями собственных результатов и разработок. Расширенный список докладов будет объявлен дополнительно не позднее 21 февраля.
По вопросам участия связывайтесь с д.ф.-м.н. Анкудиновым Александром Витальевичем:
alexander.ankudinov@mail.ioffe.ru; alex_ank@mail.ru; мобильный телефон +7-931-362-4-317.
Не сотрудники ФТИ, планирующие посетить круглый стол, должны прислать на электронный адрес Анкудинова А. В. до 20 февраля письмо с указанием своей фамилии, имени, отчества, а также серии и номера паспорта гражданина РФ для составления списка посетителей. По этому списку при наличии внутреннего паспорта в течение 22 февраля будет разрешено проходить в институт.
С 14 по 18 марта в городе Нижний Новгород состоялся юбилейный XX Международный симпозиум « Нанофизика и наноэлектроника», одно из главных направлений которого – сканирующая зондовая микроскопия. Компания НТ-МДТ – лидер на российском рынке СЗМ – не только выступила в роли официального спонсора данного мероприятия, но и приняла в нем непосредственное участие.
Честь открыть секцию « Зондовая микроскопия» была предоставлена генеральному директору НТ-МДТ, президенту Нанотехнологического общества России Виктору Александровичу Быкову. В своем докладе « Новые возможности сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии» Виктор Александрович рассказал о новых разработках в области микромеханики, а также о системах СЗМ, планируемых к выпуску в серийное производство в текущем и следующем годах. Приятно отметить, что данная тема вызвала большой интерес у слушателей, многие из которых уже давно и хорошо знакомы с компанией НТ-МДТ и приборами ее производства.
Доклад директора по разработкам НТ-МДТ Вячеслава Викторовича Полякова « Применение осцилляционных резонансных и нерезонансных методик для характеризации различных свойств поверхностей в атомно-силовой микроскопии» был посвящен инновационным СЗМ методикам на базе выпускаемого серийно контроллера Hybrid, а также нового контроллера HybriD++, старт продаж которого планируется в ближайшее время.
Ведущий разработчик НТ-МДТ Дмитрий Всеволодович Казанцев выступил с докладом « Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля в видимом и среднем ИК-диапазонах», в котором были освещены современные разработки компании в области оптических методов, так называемая методика S-SNOM и возможности получения стабильного сверхвысокого оптического разрешения в 20-30 нм на достаточно широком круге образцов.
Компания НТ-МДТ выражает благодарность всем организаторам и участникам симпозиума за создание дружественной и тёплой атмосферы мероприятия и бесценный обмен опытом. Особую благодарность выражаем присутствующим на симпозиуме нашим пользователям, которые поделились с нами своими мыслями об оборудовании и изделиях микромеханики.
Нанотехнологии в образовании — это крайне широкий спектр задач физики, химии, биологии, информатики и математики, решать которые увлекательно и перспективно. Особенно, если в распоряжении преподавателей и учащихся имеются современные приборы для изучения наномира, использование которых позволяет освоить межпредметные связи, развить междисциплинарный подход, узнать больше о современных задачах в области физики, химии, биологии, нанотехнологий. Работа на современном оборудовании формирует системно-научное мышление, повышает мотивацию учащихся и конкурентоспособность образования.
Одним из самых мощных приборов познания наномира является сканирующий зондовый микроскоп, на базе которого создаются разнообразные научно-образовательные комплексы для проведения междисциплинарных учебно-исследовательских занятий в области естествознания. Сканирующая зондовая микроскопия – один из наиболее информативных методов измерений в наноразмерных масштабах. При этом принципы, лежащие в ее основе, наглядны и понятны даже тем, кто прошел только начала школьного курса физики.
Среди отечественных научно-образовательных комплексов, предназначенных для проведения учебных занятий и лабораторных работ, можно выделить « Нанолаб» — комплект современных исследовательских приборов, спроектированный и изготовленный компанией НТ-МДТ, лидером на российском рынке приборов, способных решать широкий спектр задач в области нанометровых размеров. Основа «Нанолаба» — сканирующие зондовые микроскопы NT-MDT. Этим приборам доступны все основные зондовые методы. Простота их использования не мешает получать разрешение вплоть до атомарного. Комплектуется «Нанолаб» и базовыми инструментами исследования материалов – оптическими микроскопами, которые дают возможность изучать и макро, и микро, и наноструктуру материалов одновременно, в десятки раз расширяя многообразие доступных для исследования систем.
Современная лаборатория должна включать в себя не только высокоточные микроскопы и сложные химические реакторы. Чтобы использовать их потенциал также необходимо сравнительно простое и относительно недорогое оборудование, качество и функциональность которого напрямую влияют на разнообразие и сложность доступных для исследования систем и явлений. Поэтому в комплект научно-образовательного комплекса «Нанолаб» входит лабораторное оборудование, необходимое для проведения лабораторных занятий преподавателями и постановки экспериментов учащимися.
«Нанолаб» – это не только оборудование, но и входящие в комплект поставки лабораторные работы с подробным описанием занятий, имеющие несколько уровней сложности, что позволяет выходить далеко за рамки школьной программы. Большая часть лабораторных работ спроектирована так, что может быть выполнена под руководством хорошего школьного учителя, несмотря на то, что их темы относятся к актуальным научным направлениям последних 10-20 лет и обычно изучаются на старших курсах профильных вузов. Это достигается за счет методической проработанности учебных проектов и своевременной поддержки пользователей. Поддержка «Нанолаба» включает в себя консультации по практикумам, работе приборов и организации проектной деятельности.
В общем и целом, научно-образовательный комплекс «Нанолаб» предназначен для проведения междисциплинарных практикумов в естественно-научном направлении (физика, химия, биология, математика, информатика) и для ведения проектной и исследовательской самостоятельной деятельности учащихся. Этот комплект может иметь разную спецификацию в зависимости от специализации и предпочтений школ и ВУЗов и включать в состав лабораторное оборудование, цифровые образовательные ресурсы, расходные материалы для проведения специализированных лабораторных работ.
Разрабатывает, производит, поставляет и поддерживает научно-образовательные комплексы «Нанолаб» кампания «Полюс НТ» в партнерстве с компанией НТ-МДТ.
«Нанолаб» на сайте компании «Полюс-НТ».
«Нанолаб» на сайте компании НТ-МДТ.
19-20 февраля NT-MDT America Inc провела АСМ-Раман семинар в университете Карнеги-Меллон (CMU) на факультете материаловедения и инженерии. Семинар посетили более 20 исследователей от CMU, других местных университетов и промышленности, занимающихся различными прикладными исследованиями. Мероприятие было организовано в современном центре микроскопии с лекционной аудиторией, оборудованной видео экранами, которые позволяют в режиме онлайн наблюдать проводимые в лабораториях АСМ эксперименты.
Помимо лекций, в которых на первом плане были представлены недавние достижения в получении изображений с высокой разрешающей способностью и количественных АСМ измерений локальных механических и электрических свойств, а также АСМ-Раман применений, для участников семинара были проведены демонстрационные сессии с применением АСМ микроскопов Solver NEXT и ИНТЕГРА Спектра. Для пробных экспериментов исследователи предоставили различные образцы, которые включали углеродные материалы, полимеры, композиты, пьезочувствительные материалы, полупроводники.
Семинар был организован при горячей поддержке Адама Виза (Adame Wise), специалиста по зондовой микроскопии и оборудованию в CMU. Он указал в своем выступлении: «У нас в Карнеги-Меллон есть довольно много приборов НТ-МДТ. Наш основной рабочий инструмент – Solver NEXT, и в наших студенческих лабораториях используются системы Solver Nano. Мы также только что установили систему ИНТЕГРА Спектра с контроллером HybriD Mode, который сулит новые возможности нашему центру. Существует распространенное мнение об АСМ, что это только для поверхностной топографии. Я рад способствовать приезду к нам НТ-МДТ и демонстрации возможностей этих инструментов в получении более обширной информации о наших образцах».
Семинары для пользователей приборами НТ-МДТ в различных университетах США становятся плодотворным совместным обменом, помогающим пользователям оптимизировать их эксперименты, расширить возможности наноразмерной характеризации и изучить на практике удивительные примеры АСМ и АСМ-Раман применений. На 2015 год для различных пользователей оборудованием кампании НТ-МДТ в США уже запланирован ряд подобных семинаров НТ-МДТ.
На последнем Вебинаре и семинарах НТ-МДТ в Питсбурге (США) и Франкфурте (Германия) в течение последних недель были представлены продолжающиеся разработки в количественных наномеханических (QNM - quantitative nanomechanical) исследованиях с применением HybriD метода.
Во время полной проверки количественного отображения модуля упругости на серии полимеров были достигнуты два важных результата.
Первый результат демонстрирует, что величины модуля упругости полимеров, полученных из силовых кривых во время отображения блоков чистых полимеров, хорошо коррелируют с их макроскопическими значениями. Это оправдывает использование HybriD метода для композиционного отображения многокомпонентных полимерных материалов.
Второй результат - обычное высокое пространственное разрешение отображения модуля, которое было достигнуто в исследованиях многих полимеров с чешуйчатой морфологией. В частности, была получена карта модуля упругости диблок-сополимера полистирола (PS) и полиметилметакрилата (PMMA).
 
1 мкм2 карта модуля упругости PS-b-PMMA блок сополимера и поперечное сечение по карте.
Как показали исследования, пространственные изменения модуля упругости сополимера полистирола и полиметилметакрилата лежат в диапазоне 20-40 нм, который практически совпадает с характерными размерами острия зонда АСМ.
Для расширения применений АСМ специалисты по зондовой микроскопии и оборудованию университета Карнеги-Меллон CMU исследуют использование Частотно-модуляционной (ЧМ) АСМ для исследований на воздухе. Контроль изменения частоты исследования АСМ, которое взаимодействует с образцом, и использование его для обратной связи является сущностью этого резонансного колебательного способа.
ЧМ АСМ систематически применяются при сверхвысоковакуумных АСМ исследованиях, и в настоящее время ее применение на воздухе весьма ограничено. Намерение исследователей из CMU состоит в том, чтобы проверить возможности этого способа по сравнению с амплитудно-модуляционным.
Ожидается, что использование отслеживания изменений резонансной частоты позволит исследовать мягкие и слабо связанные поверхностных структуры, которые «сметаются» при АСМ измерениях другими методами. В первых экспериментах было установлено стабильное отслеживание частотного сдвига в условиях, когда взаимодействия зонд-образец были притягивающими, притягивающими в среднем и отталкивающими. Ниже показаны ЧМ изображения, которые были получены в режиме притяжения на чешуйках полуфторировавших алканов на графите и в режиме отталкивания на «пончиках» полуфторировавших алканов на слюде.
 
НТ-МДТ
Компания НТ-МДТ, в рамках образовательных проектов расширяет список своих партнеров и решений. Мы предлагаем Вашему вниманию решение для создания лаборатории 3D-моделирования и прототипирования: персональный 3D-принтер нового поколения, который позволяет создавать реальные объекты на основе цифровой 3D-модели из всех видов пластика.
Лаборатория 3D-моделирования и прототипирования может быть использована, как в образовательном процессе для среднего и высшего образования, так и для дополнительного образования и решения технологических задач.
В комплект поставки лаборатории может входить 3D-принтер, 3D-сканер и специальное программное обеспечения для работы с объемными моделями. Познакомиться с подробными техническими характеристиками оборудования, можно на сайте в разделе /Микроскопы для образования/ Сопутствующие товары/ или запросив коммерческое предложение. Производители оборудования – Российская Федерация, цена производителя единая по РФ.
Follow up on 2014 MRS Fall Meeting & Exhibition in Boston
Traditionally, the MRS Fall meeting is a large gathering of US and international scientists, and SPM-related symposiums always attract their attention. This year the attendees paid a special awareness to symposium PP: Advances in Scanning Probe Microscopy for Multimodal Imaging at the Nanoscale, co-sponsored by NT-MDT. The latest developments of techniques, which offer an optical resolution below the diffraction limit as well as chemical identification, were presented and discussed at this well attended meeting. We have also participated in this event by contributing two talks, and the same topic was a subject of our live demonstration of Tip Enhanced Raman Scattering on different samples, which was performed at one of our two booths. At another booth, NT-MDT has introduced a novel Thermal Cabinet for our SPM microscopes. The attractive cabinet provides not only microscope isolation fr om the acoustic noise and mechanical vibrations, but also ensures unique temperature stability with variations less than 0.01 degree. This instrument environment enables low thermal drift SPM measurement, which is important for many applications including but not lim ited to high-resolution imaging in different AFM modes (amplitude modulation, Hybrid and contact modes).
From the Social Networks
Several groups of the professional Internet network “LinkedIn” are involved in discussions about different aspects of scanning probe microscopy. One of the recent topics of “Scanning Probe Microscopy Society” is the novel approach in recording and analysis of force curves in Hybrid mode, which is the non-resonant oscillatory technique, introduced a couple of years ago by NT-MDT. The related document describing IsoDynamic Force Microscopy can be found at https://www.youtube.com/watch?v=_ftYMn-7te0. It contains a short movie presenting the visualization of elastic depression of poly (dimethyl siloxane) lamellar structures, which was recorded simultaneously with the force curves. Actually, the use of the force curves in AFM modes for the force control during imaging is also complemented by their on-line and off-line analysis as well as for the extraction of the local mechanical and electric properties simultaneously with the surface profiling. A new Application Note, in which these questions are considered in details, is in progress.
From the Laboratories
Thermoelectric measurements with AFM have been demonstrated by several research groups, and this method becomes a valuable addition to the family of AFM-based electric modes. The essence of this method is a precise detection of the voltage between the Pt-coated AFM probe and a sample and its changes at different temperatures. This phenomenon is broadly used in thermocouples and described by Seebeck coefficient which depends on the sample chemical nature. Our attention to the AFM thermoelectric measurements was inspired by the collaborative efforts with the group of Prof. Rachel Segalman (UCSB), whose earlier efforts has been documented in the paper: P. Reddy et al Science 315, 1568 (2007). The straight demonstration of this effect has been achieved in studies of an incomplete metal alloy of Bi and Sn. These metals are characterized by substantially different Seebeck coefficients: Bi – 72mV/˚C, Sn – 1.5mV/˚C. The image below shows the voltage map, which was recorded at elevated temperature of 55˚C. The distinctive contrast of different domains (practically not-noticeable at room temperature) allows their assignment to the individual constituents of this alloy. This is one of the possible ways of compositional mapping of the heterogeneous materials. Single-pass Kelvin Force Microscopy and quantitative nanomechanical measurements in the Hybrid mode were already described in NT-MDT applications related to the Bi/Sn alloy. It is worth noting that the AFM-based thermoelectric study helped to reveal the local defects in epitaxial graphene: S. Cho et al. Nature Materials 12, 913 (2013)
Forthcoming NT-MDT Events: 2015
January 14: Webinar “Characterization of Materials with a Combined AFM/Raman Microscope” based on the AFM/Raman data obtained in the combined Raman microscope DXR of Thermo Fisher Scientific and AFM unit NTEGRA Spectra from NT-MDT.
February: NT-MDT AFM/Raman Workshop at Carnegie Mellon University (Pittsburgh, PA), which includes technical presentations and demonstration sessions on several NT-MDT microscope.
NT-MDT
With this News Letter we are initiating regular communication to the USA research community regarding our company’s research and development activities and promotions of our scanning probe microscopy (SPM) and Raman instruments. For a quarter of century commercial SPM microscopes have attracted scientists by the unique capabilities of materials’ characterization at small scales. This is an ongoing journey to the nanoscale, and our team consolidates long- term experience, strong motivation and hard-work ethics for continuous improvements of the instrumentation and applications.
Our goal is to provide researchers with the most sophisticated instruments for quantitative measurements of structure and properties of materials. In achieving this mission we are advancing the local studies with contact and oscillatory (non-resonant - HybriD and resonant - Amplitude modulation) modes using their complimentary nature for quantitative nanoscale measurements of mechanical and electric properties. In a further extension of AFM we have combined it with spectroscopic Raman studies where the spatial resolution approaches a few nanometers with the tip-enhanced technique.
We are rigorously proving the quality of our microscopes and validity of various measurements with applications on different samples thus providing our customers with a database for successful studies of materials of their interest.
Starting this year the NT-MDT activities in the USA are guided fr om a new office in Tempe AZ wh ere the sales and technical support groups are working side-by-side with an experienced research and development team. This arrangement further strengthens our support of our US customers and enhances their awareness about novel research projects and advanced applications of our microscopes.
The offce occupies 8400 sq. ft. space and includes, besides the offces and conference areas, several demonstration and research laboratories, which are equipped with the whole range of NT-MDT SPM microscopes and several set-ups for combined AFM and Raman studies. The facilities have been already used for demonstrations for potential customers and recently we held an AFM-Raman Workshop. The office is located in a close proximity to Arizona State University and a large number of technology companies such as Intel, Freescale, Honeywell and others. Several cooperations with the local research community have been initiated and this helps promoting scanning probe microscopy, in general, and the innovative functions of NT-MDT instruments for quantitative measurements of materials properties at the nanoscale.
We will be glad to help academic and industrial scientists in the evaluation of the SPM and AFM-Raman capabilities for solving their research problems. Please, don’t hesitate to contact us: info@ntmdt-america.com
To address the education and research needs the researchers of San Bernardino State University acquired a combined set-up consisting of our NEXT and Solver Nano microscopes, which were recently installed in laboratories of the Physics Department guided by Profs. Paul Dixon and Tim Usher. The Solver Nano is used in the education process and students are learning about this method and its applications with the probes prepared by them. The NEXT instrument is employed in the electric and high-voltage piezoresponse force studies of ferroelectrics and piezoelectric materials. In the effort to understand the relationship between piezoelectric properties at the small and macro scales, the SPM microscope was successfully integrated with a macroscopic piezotester from Radiant Technologies.
On November 12, at the new NT-MDT office the company hosted a workshop introducing its SPM technology to local Universities (Arizona State University and University of Arizona) and industry. The workshop was attended by researchers involved in different application areas (Semiconductors, Polymers, Chemistry, etc.). In addition to the overview lectures on AFM and AFM-Raman advanced applications the participants enjoyed live demonstration sessions of three microscopes, which were used for local mechanical, electric and spectroscopic studies. The attendees paid special attention to AFM-Raman measurements, which are relative new for them. The simultaneous studies of surface topography, mechanical/electric properties and Raman maps enhance the identification of components in complex materials.
We will continue such workshops in future and not only in Arizona. The next workshop is tentatively planned at Carnegie Mellon University in Pittsburgh in the beginning of 2015. We will be glad to see you at such events and we are open to your suggestions regarding the locations and topics.
Traditionally, the MRS Fall meeting is a large gathering of the USA and international scientists, and SPM-related Symposiums and Exhibition Booths of SPM manufacturers are always attract their attention.
This year NT-MDT company will present its leading products Titanium microscope, and AFM-Raman NTE- GRA Spectra system. Titanium will be installed in an innovative thermal cabinet that allows low drift measurements. Live demonstration of Tip-Enhanced Raman Microscopy will be performed with NTEGRA Spectra system. The company researchers will present 2 oral lectures and one poster at MRS Symposium on advances in SPM. Two new applications notes on high-resolution imaging and AFM-Raman studies will be presented at our Booth #210/211.
An NT-MDT webinar on AFM-Raman applications is planned for January 14, 2015. For recent documents on latest Webinar and Applications Notes, please check the following address:
http://www.ntmdt.com/webinars/archive
http://www.ntmdt.com/brochures
НТ-МДТ
|
