Работа А.П. Мельникова и др. посвящена разработке и применению нового экспериментального метода, сочетающего in-situ сверхбыструю калориметрию на чипе с синхротронной нанофокусной дифракцией рентгеновских лучей. В данной работе метод использован для исследования механизмов плавления образцов частично-кристаллических полимеров массой в несколько десятков нанограмм. Возможность проведения подобных исследований актуальна при работе с материалами, характеризующимися сложным фазовым поведением, как например, склонными к переходам в метастабильные состояния, а также демонстрирующими быстропротекающие процессы структурной перестройки в ходе температурной обработки.

В статье А.С. Орехова и др. методами высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, электронной дифракции и рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии исследованы структура и состав пленок высшего силицида марганца (ВСМ) на подложке (111)Si. Показано, что в результате взаимодействия кремния и паров марганца при температуре 1040 °С на поверхности образуется пленка ВСМ состава Mn4Si7. Граница раздела пленка/подложка является полукогерентной и не содержит переходного слоя. Структура границы раздела была уточнена методом компьютерного моделирования. Определено ориентационное соотношение пленки и подложки.

В работе М.А. Джафарова и др. представлены экспериментальные результаты получения наночастиц ZnS:Мn, анализ структуры и исследования их оптических и фотолюминесцентных характеристик. Наночастицы и тонкие пленки ZnS:Мn на кремниевой и стеклянной подложках выращены методом гидрохимического осаждения из раствора, содержащего тиомочевины, хлорид цинка, хлорид марганца и диметилсульфоксид. При помощи дифракционного анализа рентгеновских луче, атомного силового микроскопа и сканирующего электронного микроскопа проведены исследования внутреннего строения и структуры полученных образцов. На основе спектральной зависимости определена ширина запрещенной зоны наночастиц ZnS:Мn. Обнаружено, что с уменьшением размеров наночастиц интенсивности пиков фотолюминесценции увеличиваются.

STRF.ru