Участие «НТ-МДТ Спектрум Инструментс» в конференции «Графен: молекула и 2D- кристалл»

Опубликовано 16.08.2019
Виктор Быков   |   просмотров - 141,   комментариев - 0
Участие «НТ-МДТ Спектрум Инструментс» в конференции «Графен: молекула и 2D- кристалл»

C 5 по 9 августа 2019 года в Новосибирском государственном университете проходила Третья российская конференция «Графен: молекула и 2D-кристалл».

Научные направления конференции:

- Химический и CVD синтезы графена и родственных материалов.

- Химическая модификация графена и гибридные 2D материалы.

- Топологические изоляторы и полуметаллы Вейля.

- Диагностика графена и других 2D материалов.

- Теория, строение и моделирование свойств графена и родственных низкоразмерных материалов.

- Графеновая электроника.

- Механические и электромеханические свойства и приложения.

На конференции с развернутым докладом «Исследование углеродных материалов методами сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии высокого пространственного разрешения» выступил Почетный президент Группы компаний «НТ-МДТ Спектрум Инструментс», президент Нанотехнологического общества России д.т.н. В.А. Быков.



В докладе представлены новые разработки приборов и методов исследования группы компаний «НТ-МДТ Спектрум Инструментс».

В настоящее время сканирующая зондовая микроскопия стала мощным методом исследования материалов с пространственным разрешением вплоть до атомного. Появилась возможность исследования топографии, электрических, магнитных, пьезоэлектрических, механических свойств материалов, изучения адсорбционных поверхностных структур, исследования теплопроводности, жесткости материалов в различных условиях: сверхвысокого вакуума, контролируемой газовой атмосферы, в жидкостных ячейках.

Мощное развитие получила ближнепольная оптическая микроскопия, в том числе безаппертурная1. Созданы приборы, позволяющие регистрировать комбинационное рассеяние света, люминесцентные свойства материалов в сочетании с методами атомно-силовой микроскопии. Последнее особенно интересно при исследовании углеродных материалов – графенов, нанотрубок, углеродных кластеров.

В докладе иллюстрируются возможности приборов и новых методов2, включая возможности сканирования со скоростями на порядок, превышающими скорости сканирования моделей приборов даже пятилетней давности3. Контроллеры и современное программное обеспечение с элементами искусственного интеллекта4 значительно снижают требования к специалистам, касающиеся освоения тонкостей методов, позволяя сосредоточиться на сущности предмета исследования.

1 https://www.ntmdt-si.ru/products/afm-raman-nano-ir-systems/ntegra-nano-ir

2 https://www.ntmdt-si.ru/products/features/hybrid-mode

3 https://www.ntmdt-si.ru/products/features/rapidscan

4 https://www.ntmdt-si.ru/products/features/intelligent-scantronic-software


На отдельном стенде был также представлен прибор ИНТЕГРА Спектра II.


Презентация доклада «Исследование углеродных материалов методами сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии высокого пространственного разрешения»



Комментарии:

Пока комментариев нет. Станьте первым!